imagej功能强大，因此我们选择它来进行本次分享。在多种粒径分析方法中，本文将重点介绍最基础且常用的——手动测量粒径法，该方法操作直观，非常适合初学者快速上手。
1、首先启动ImageJ软件，并导入需要处理的图像文件。
2、作为一款基于Java语言开发的开源图像分析工具，ImageJ支持包括TIFF、PNG、GIF、JPEG、BMP、DICOM、FITS在内的多种图像格式。无论是SEM（扫描电镜）还是TEM（透射电镜）图像，只要转换为上述格式，均可在ImageJ中进行高效处理与量化分析，具备出色的兼容性与扩展能力，广泛应用于科研领域的图像数据分析。
3、通过点击菜单栏中的“文件”→“打开”，选择所需的TIF或JPG格式图像文件。加载成功后，界面将显示如下图所示内容。
4、接下来进行标尺设置。
5、标尺是实现真实尺寸测量的关键，在此仅详细介绍具体操作流程。
6、从工具栏中选择直线绘制工具，手动画出一条与图像中标尺长度相等的线段。
7、若标尺过小难以对齐，可先使用缩放功能放大图像区域，再精确绘制直线。
8、随后进入Analyze菜单，选择Set Scale选项。在弹出的设置窗口中，“Known Distance”栏填写标尺对应的实际长度，在“Unit of Length”中输入单位（如nm或μm）。确认信息准确无误后点击OK，完成空间刻度的校准。
9、开始测量颗粒直径。
10、完成标尺设定后，即可利用直线工具直接测量纳米颗粒的真实尺寸。
11、使用画线工具穿过目标颗粒的最长直径，必要时可提前放大图像以提高精度。完成后，点击Analyze → Measure（快捷键Ctrl+M），结果窗口中显示的Length值即为该颗粒的粒径。
12、对已测量的颗粒进行标记，防止重复统计。
13、为了保证粒径分布分析的可靠性，通常建议至少测量100个颗粒，并避免重复或遗漏。ImageJ提供便捷的标记功能，有助于清晰识别已完成测量的颗粒，提升统计效率和准确性。
14、操作方式为：每次测量完毕后，点击Analyze → Label，系统会自动在当前颗粒旁添加编号标签，便于追踪管理。
15、第四步：导出统计数据。
16、当完成约100个颗粒的测量后，可在结果窗口中点击“File”→“Save As”，将数据保存为XLS格式文件，供后续分析使用。
17、第五步：进行数据统计分析。
18、本步骤推荐使用Origin软件完成数据的进一步处理与可视化。
19、具体操作如下：
20、打开之前保存的XLS文件，复制“Length”列中的所有粒径数据，粘贴至Origin工作表中。
21、选中该数据列，依次点击Statistics → Descriptive Statistics → Frequency Count，软件将自动生成频率分布统计结果。
22、在弹出的参数设置窗口中，可根据需求调整最小值、最大值及区间增量等选项，确保分组合理。
23、设置完成后点击确定，Origin将生成频数统计表格。
24、选取输出表中的Count列数据，绘制柱状图，并优化坐标轴样式，最终得到清晰的粒径分布直方图，如上图所示。
25、若需计算平均粒径与标准差，在Origin中选中粒径数据列，点击Statistics → Descriptive Statistics → Statistics on Columns。系统将弹出详细统计报告窗口，其中明确列出平均值（Mean）和标准偏差（Standard Deviation），方便直接读取与引用。
26、通常情况下，会在粒径分布图上标注出平均值与标准差，以直观反映数据的集中趋势和离散程度。
