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消息称三星电子 1c nm DRAM 内存良率已突破量产盈亏平衡点

花韻仙語

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发布时间:2026-01-17 18:42:02

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1月17日消息,韩国媒体it chosun昨日披露,三星电子第六代10纳米级dram制程工艺(即业界所称的1c nm)当前良率已攀升至约60%,正式跨越量产盈亏临界点

这一进展被视作关键性突破,原因在于三星即将推出的HBM4内存正是基于1c nm DRAM技术打造。DRAM晶粒良率的显著提升,将直接增强三星在HBM4市场的盈利空间,从而为整体财务表现注入积极动能。

消息称三星电子 1c nm DRAM 内存良率已突破量产盈亏平衡点

据报道,三星电子在1c nm DRAM项目上调整了此前以良率稳健为先、放缓量产节奏的策略,转而回归更为主动的快速量产路径,旨在更敏捷地响应市场需求变化——此举有望助力其从英伟达等核心客户处争取更多订单份额。

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TrendForce集邦咨询早前指出,在HBM规格持续升级及现有HBM3E平台需求强劲的双重驱动下,HBM内存的大规模量产最早或于2026年第一季度末启动,三星电子、SK海力士与美光三大厂商仍保有充足窗口期,进一步优化产品良率

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